Präzise Transistortests dank Automation und KI

Source: Industr.com, E&E, March 2026 (in German)

Ein neues vollautomatisches Messverfahren von FBH und TU Berlin erhöht die Genauigkeit bei der Charakterisierung von HF-Transistoren auf Mikrometer-Niveau – und macht die Waferanalyse schneller, zuverlässiger und weniger fehleranfällig…

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