Patente
"Optisches Element und Verfahren zu dessen Herstellung"
DE 10 2004 052 857 B4
"Mikrowellenantenne für in Flip-Chip-Technologie hergestellte Halbleiterbaugruppen"
DE 10 2004 014 018 B3 EP 1 726 063 B1 US 7,612,728 B2
EP validiert in FR, GB
"Verfahren zur Herstellung eines Braggschen Gitters in einer Halbleiterschichtenfolge mittels Ätzen und Halbleiterbauelement"
DE 102 00 360 B4 EP 1 464 098 B1
EP validiert in GB, DE, CH, SE, IE, NL, FI, FR
"Verfahren zur Passivierung der Spiegelflächen von optischen Halbleiterbauelementen"
DE 102 21 952 B4 EP 1 514 335 B1 US 7,338,821 B2
EP validiert in CH, FI, FR, GB
"Laser Resonators Comprising Mode-Selective Phase Structures"
US 6,920,160 B2
"Mikroplasmaarray"
US 8,545,764 B2
"Verfahren zur Erzeugung von vertikalen elektrischen Kontaktverbindungen in Halbleiterwafern"
US 8,158,514 B2 JP 5080456
"Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung von kohärenter Terahertz-Strahlung"
DE 10 2006 041 728 B4 EP 2 057 720 B1
EP validiert in FR, GB
"Verfahren zur Erzeugung von Durchkontaktierungen in Halbleiterwafern"
JP 5123185 US 8,455,355 B2
"Vorrichtung zur Frequenzverdopplung von Laserstrahlung"
EP 2 235 590 B1
EP validiert in CH, DE, DK, FR, GB, IE
"Verfahren zur Herstellung von c-plane orientierten GaN- oder AlxGa1-xN-Substraten"
EP 1 841 902 B1
EP validiert in DE
"Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung und Detektion eines Raman-Spektrums"
US 7,864,311 B2 DE 10 2005 028 268 B4 EP 1 891 408 B1
EP validiert in AT, CH, FR, GB, DE
"Verfahren zur Herstellung einer Metallisierung für mindestens ein Kontaktpad und Halbleiterwafer mit Metallisierung für mindestens ein Kontaktpad"
DE 10 2009 013 921 B3 US 8,648,466 B2 EP 2409323 B1
EP validiert in DE, BE, ES, FR, GB, IE, SE
"Verfahren zur Erzeugung und zur Detektion eines Raman-Spektrums"
DE 10 2009 029 648 B3 US 8,310,672 B2 EP 2 480 868 B1
EP validiert in DK, FR, SE, GB, CH
"Vorrichtung, Tastkopf und Verfahren zur galvanisch entkoppelten Übertragung eines Messsignals"
US 7,893,683 B2
"Halbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung"
US 8,003,996 B2 EP 2 095 433 B1
EP validiert in DE, GB, CH
"Optoelektronisches Halbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung"
EP 2 262 067 B1
EP validiert in DE, CH, GB, FR
"Optische Bank und Verfahren zur Herstellung der optischen Bank"
JP 5677420 B2 US 8,659,815 B2 KR 10-1572945 B1 EP 2 440 968 B1
EP validiert in DE, CH, DK, FR, GB
"P-Kontakt und Leuchtdiode für den ultravioletten Spektralbereich"
JP 5689466 B2 KR 10-1642276 US 9,331,246 B2 EP 2 454 762 B1
EP validiert in AT, BE, DE, CH, ES, FR, GB, IE, IT, NL
"Skalierbarer Aufbau für laterale Halbleiterbauelemente mit hoher Stromtragfähigkeit"
US 8,901,671 B2 EP 2 534 685 B1 JP 5738322 B2
EP validiert in DE, BE, AT, FR, GB, NL
"Self-Adjusting gate BIAS network for field effect transistors"
US 8,324,971 B2
"Diodenlaser mit einem externen frequenzselektiven Element"
DE 10 2011 006 198 B4 US 8,867,586 B2
"Diodenlaser und Verfahren zur Herstellung eines Diodenlasers mit hoher Effizienz"
DE 10 2011 086 744 B3 US 8,846,425 B2 EP 2 595 259 B1
validiert in DE,CH, FR, GB, NL, SE
"Broad Area Diode Laser with High Efficiency and Small Far-Field Divergence"
US 8,537,869 B2
"Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines Plasmas"
DE 10 2012 204 447 B4 EP 2 642 833 A2
EP validiert in GB, FR
"Halbleiterbauelement mit Feldplattenstruktur und Verfahren zu dessen Herstellung"
JP 5512287 US 8,866,191 B2 EP 2 135 286 B1
EP validiert in DE, FR, GB
"Laserdiode mit hoher Effizienz und hoher Augensicherheit"
US 9,343,873 B2 EP 2 617 110 B1
EP validiert in AT, CH, FI, FR, GB, IE, IT, DE
"Photodetektor"
DE 10 2011 075 103 B4 US 9,431,557 B2
"Diodenlaser und Laserresonator für einen Diodenlaser mit verbesserter lateraler Strahlqualität"
US 8,675,705 B2 EP 2 467 909 B1
EP validiert in CH, DE, FR, SE
"Oberflächenemittierende Laserstrahlquelle mit zwei Kavitäten"
US 8,824,518 B2 EP 2 337 168 B1
validiert in DE, CH, FR, GB, NL, SE
"Diodenlaser mit hoher Effizienz"
US 8,798,109 B2 EP 2 666 213 B1
EP validiert in CH, DE, FI, FR, IE, GB, IT
"Auto-Heterodyne Receiver"
US 9,100,113 B2
"System zur Frequenzkonversion sowie Halbleiterbauelement"
US 9,008,145 B2 EP 2 650 985 B1
EP validiert in DE, AT, CH, FI, FR
"Lichtleitvorrichtung und Vorrichtung umfassend eine Lichtleitvorrichtung und Mittel zur Ausstrahlung linear angeordneter, paralleler Lichtstrahlen"
DE 10 2014 203 479 B3 EP 3 111 267 B1 JP 6403792 B2 US 10,295,831 B2
EP validiert in DE, CH, FR, GB, IE, NL, SE
"Halbleiterbauelement-Verbundstruktur mit Wärmeableitstruktur und dazugehöriges Herstellungsverfahren"
US 8,994,036 B2 EP 2 654 078 B1
EP validiert in DE, FR, GB, SE
"Halbleiterschichtenstruktur"
US 8,809,968 B2 DE 10 2012 207 501 B4 EP 2 662 896 B1
EP validiert in DE, BE, FR, GB, IT
"Vorrichtung und Verfahren zur Selektion von optischen Pulsen"
DE 10 2012 209 485 B4 US 9,448,423 B2 EP 2 672 311 B1
EP validiert in DE, FR, GB
"Vorrichtung und Verfahren zur selektiven Transmission eines optischen Signals"
US 8,559,098 B2 DE 10 2008 056 096 B4 EP 2 347 301 B1
EP validiert in DE, FR, GB
"Vorrichtung mit einer Anordnung optischer Elemente"
US 9,563,061 B2 JP 6255022 B2 EP 2 895 844 B1
EP validiert in DE, CH, DK, FI, GB, IT
"Photodetektor und Vorrichtung zur Desinfektion von Wasser diesen umfassend"
DE 10 2014 225 632 B3
"Optisches Gitter für Littrow-Aufstellung und optische Anordnung unter Verwendung des optischen Gitters"
DE 10 2012 208 772 B4
"UV LED with Tunnel-injection Layer"
US 9,705,030 B2
"Verfahren zum Ausbilden eines Metallkontakts auf einer Oberfläche eines Halbleiters und Vorrichtung mit einem Metallkontakt"
EP 3 084 808 B1 DE 10 2013 226 270 B3 KR 10-1831216 US 9,768,356 B2 JP 6511451 B2
EP validiert in DE, FR, GB, IE, PL
"Strahlungsdetektor und Verfahren zu dessen Herstellung"
DE 10 2017 103 687 B3 EP 3449508 B1
EP validiert in DE, BE, AT, CH, ES, FR, GB, FI, IE, IT, NL, Pl, TR
"Vorrichtung zur Ansteuerung eines selbstleitenden n-Kanal Endstufenfeldeffekttransisitors"
DE 10 2017 108 828 B3
"Schaltung, System zur Entfernungsbestimmung und ein Fahrzeug"
DE 10 2018 103 518 B3
"Struktursystem zum Aufbau photonischer integrierter Schaltkreise und Verfahren zu dessen Herstellung"
DE 10 2018 108 114 B3
"Laser Diode with Distributed Feedback and Method for Producing"
US 10,348,056 B2 CN 107851966 B
"Laser Diode with Improved Electrical Conduction Properties"
US 10,498,105 B2
"Template für laterales Überwachsen mindestens einer Gruppe-III-Nitrid-basierten Schicht"
DE 10 2012 223 986 B4 EP 2 747 127 B1
EP validiert in DE
"Wellenleiteranordnung"
EP 2 932 319 B1
EP validiert in DE, DK, FR, GB
"Optical System and Method for Spectroscopy"
US 10,416,081 B2
"Diodenlaser mit verbessertem Modenprofil"
DE 10 2017 101 422 B4
"Optical Device Comprising a Micro-Optical System and a Retainer, and Method for Producing an Optical Device"
US 10,690,877 B2 JP 6683702 B2
"Verfahren zur Herstellung eines mit einem Halbleitermaterial beschichteten Saphirsubstrats, nach dem Verfahren erhältliches beschichtetes Saphirsubstrat sowie Verwendung eines solchen Substrat in einer Leuchtdiode"
DE 10 2016 114 250 B4
"Verfahren und Vorrichtung zur Raman-Spektroskopie"
DE 10 2016 111 747 B4