Analytik & Messtechnik

Wir bieten umfangreiches Know-how und technische Ressourcen für komplexe Analyseprobleme und Messaufträge über die gesamte Wertschöpfungskette. In der Mikrowellen-Messtechnik führen wir für Kunden und Partner grundlegende DC- und HF-Charakterisierungen aktiver und passiver Bauelemente durch.

Darüber hinaus sind komplexe system- und anwendungsspezifische Messungen möglich, beispielsweise bei digitalen Leistungsverstärkern, MIMO- und Terahertz-Systemen. Sprechen Sie uns an!

Materialanalytik: Schicht- & Strukturanalyse

  • Röntgenbeugung - Zusammensetzung und Schichtdicken
  • Rasterkraftmikroskopie - Oberflächen charakterisieren
  • Fotolumineszenz (PL), Elektrolumineszenz (EL), Reflexion und Transmission - optische Eigenschaften
  • Fotostrom, spektral- und zeitaufgelöst
  • Hall- und CV-Messungen - Ladungsträgerdichten
  • Elektronenmikroskopie

Weitere Informationen zu unseren Analyseverfahren

Mikrowellen-Messtechnik

  • DC-Messtechnik für aktive Bauelemente
  • Kleinsignal S-Parameter-Messungen bis 1,1 THz  
  • Großsignalmessungen in der Frequenz-Domäne, Load-Pull bis 50 GHz
  • Großsignalmessungen in der Zeit-Domäne für dynamische Lastlinien und Schaltvorgänge
  • isotherme gepulste S-Parameter- und DC-Messungen
  • IR- und thermische Widerstands-Messungen
  • PA- und MMIC-Messungen mit breitbandigen Signalen für Leistungsverstärker und MIMO
  • Over-the-air (OTA) Messungen  (im Aufbau)
  • THz-Spektrum- und Leistungsmessungen bis 750 GHz

Die Messungen führen wir in der Regel on-wafer mit Temperaturkontrolle durch, sie sind aber auch an fertigen Modulen mit Koaxial- oder Hohlleiter-(Wellenleiter) Verbindungen möglich.

Weitere Informationen zu unseren Charakterisierungsmöglichkeiten.