DRIP-XV

15^th International Conference on Defects Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP)

Seit mehr als 30 Jahren beschäftigt sich die DRIP mit der Physik von Halbleitern und insbesondere deren Defekten. Die Themen der Konferenz reichen von Anwenderaspekten bis zu grundlegenden physikalischen Fragestellungen von Defekten. Das FBH ist sowohl im Lenkungskreis als auch mit einem eingeladenen Vortrag vertreten:

• Anna Mogilatenko (FBH Germany): Defect analysis in III-nitride layers using transmission electron microscopy

Programm (in Englisch)

Konferenz: 15.-19.09.2013, Warschau, Polen