DRIP - International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors

Thema der Konferenz sind alle Aspekte von Defekten in Halbleitern, einschließlich Punkt-, Linien-, Planar- und Volumendefekte. Die neuesten Fortschritte auf dem Gebiet der Fehleranalyse werden diskutiert. Sie bietet ein internationales Forum, um den Zusammenhang zwischen Kristallfehlern, der Fertigung von Bauelementen und der Degradation zu präsentieren und zu diskutieren.
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