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MSM XX

Konferenz: 09.-13.04.2017 Oxford (UK)

Microscopy of Semiconducting Materials - das FBH präsentiert die folgenden Vorträge:

  • Correlation of structural, optical and lasing properties of 240 nm laser structures
  • Study of defect density and compositional homogeneity in AlN/AlGaN layers for application in UV emitters (eingeladener Vortrag)