Defekte im Fokus
Vier Tage lang beschäftigen sich Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler mit Analyseverfahren zur Erkennung von Kristalldefekten auf der 18. internationalen DRIP-Konferenz in Berlin
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Bilder zur Pressemitteilung
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Teilnehmer der 18. DRIP-Konferenz in Berlin
©FBH/Mogilatenko
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18. DRIP-Konferenz in Berlin
©FBH
