Joint Lab Laser Metrology - die Kooperation

Kann man den Abstand zwischen der Sonne und der Erde auf Haaresbreite genau bestimmen? Um solche oder ähnliche fundamentalphysikalische Fragestellungen zu bearbeiten, wurde im Jahr 2008 am Ferdinand-Braun-Institut die Arbeitsgruppe Lasermetrologie als Joint Lab zwischen dem FBH und der Arbeitsgruppe Optische Metrologie, Prof. Peters (Institut für Physik der Humboldt-Universität zu Berlin) etabliert. Das Joint Lab Laser Metrology entwickelt Lasertechnologien, die u.a. zur Beantwortung derartiger Fragestellungen benötigt werden. 

  • [+] Mehrsektionslaser aus C-Mount, wie sie in Makro-Aufbauten und zum Test eingesetzt werden.
  • [+] ECDL-Lasermodul, wie es auf Höhenforschungsraketen und im Fallturm eingesetzt wird.
  • FOKUS Modul
    [+] FOKUS-Einheit: Lasermodul (unter Abdeckung) mit Spektroskopiereferenz. Gelaunched im April 2015 auf TEXUS 51

Durch diese Zusammenarbeit können die gemeinsamen Interessen und komplementären Expertisen von FBH (Halbleiterlaserentwicklung, hybride Mikrointegration) und Arbeitsgruppe Optische Metrologie (optische und quantenoptische Präzisionsmessungen für fundamentalphysikalische Fragestellungen) optimal gebündelt werden: Die aus fundamentalphysikalischen Fragestellungen resultierenden Anwendungen stellen höchste Anforderungen an Diodenlasersysteme, beispielsweise im Hinblick auf Laserleistung, Frequenzstabilität, Strahlqualität, Kompaktheit und Systemzuverlässigkeit. Fundamentalphysikalisch orientierte Experimente wiederum profitieren von den Möglichkeiten, die sich im Rahmen der Vernetzung für die Entwicklung maßgeschneiderter Diodenlasersysteme ergeben.

Mit der Kooperation kann das FBH im Themenfeld schmalbandige Lasersysteme die komplette Wertschöpfungskette von der Simulation und dem Design von Halbleiterlasern und Modulen, über deren Herstellung und Mikrointegration und messtechnische Charakterisierung bis zur Anwendung abdecken. Die Ergebnisse aus der Anwendung liefern dann wiederum wichtige Informationen für die Weiterentwicklung der Technologie, so dass ein kompletter Entwicklungszyklus abgebildet wird.