Mikrowellenmesstechnik

Für die Charakterisierung der Bauelemente und integrierten Schaltungen steht am FBH eine umfangreiche Messtechnikumgebung zur Verfügung, die von darauf spezialisierten Mitarbeitern betrieben wird. Es sind folgende Messverfahren und Methoden etabliert:

  • S-Parameter-Messtechnik bis 500 GHz
  • Gepulste DC- und S-Parameter-Messungen bis 50 GHz
  • Leistung und Spektralanalyse bis 750 GHz
  • On-Wafer-Load-Pull mit IMD und Modulation bis 26,5 GHz
  • Hochleistungs-Load-Pull für gehäuste Transistoren bis 8 GHz
  • Nichtlineare Netzwerkanalyse mit Load-Pull (X-Parameter in Vorbereitung)
  • 50-Ohm Verstärker-Charakterisierung mit DPD, 80 MHz IQ-Bandbreite
  • Messtechnik für digitale Leistungsverstärker
  • HF- und NF-Rauschmessungen, sowie Phasenrauschcharakterisierung
  • Thermische Widerstandsmessung
  • On-Wafer Messtechnik
    [+] On-Wafer Messtechnik: 110 GHz Messplatz
  • On-Wafer Mikrowellen-Messtechnik
    [+] On-Wafer Mikrowellen-Messtechnik

Die Messtechnik kommt im Rahmen der Forschungsarbeiten und zur routinemäßigen, prozessbegleitenden Überwachung zum Einsatz. Die messtechnische Kompetenz des Ferdinand-Braun-Institutes kann aber auch durch externe Interessenten in Anspruch genommen werden (Consulting, Messaufträge).