Abdünnen
Verringerung der Dicke einer Halbleiterscheibe durch Läppen und Polieren von ca. 0,5 mm (500 µm) auf eine Enddicke von typisch 100 µm.
Technologische Standardverfahren
- Läppen und Polieren von GaAs, SiC und Saphir
- Bearbeitung von 2"-, 3"- und 4"-Wafern sowie Waferteilstücken
- Erzielte Dickenhomogenität typ. +/- 2 µm über 4"
Ansprechpartner | Andreas Braun | |
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| Tel. | +49.30.6392-2702 | |
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