Messplatz
Labor für Lebensdauermessungen
Labor für Lebensdauermessungen

Kennlinien und Strahlcharakterisierung

Eigenschaftsbestimmung der Laserdioden als Chip vor der Montage und nach dem Aufbau auf angepasste Wärmesenken

Standardcharakterisierung

  • Materialhomogenität einzelner Emitter aus Laserbarren
  • Leistungs-Strom- sowie Spannungs-Strom-Kennlinie
  • Messung der charakteristischen Temperaturen T0 und T1
  • Bestimmung des thermischen Widerstandes Rth aufgebauter Laser
  • Polarisationsgradmessungen

Spektrale Charakterisierung

  • Messung von Spektren und Linienbreiten

Bestimmung der Strahlqualität von BA-, RW- und Trapezlasern

  • Nahfeld, Fernfeld und Strahltaille
  • Strahlqualität (M2)
Kennlinie eines Trapezlasers mit einer Wellenlänge von 730 nm für medizinische Anwendungen
Kennlinie eines Trapezlasers mit einer Wellenlänge von 730 nm für medizinische Anwendungen
effektive Fernfeldverteilung eines Trapezlasers mit einer Wellenlänge von 730 nm für medizinische Anwendungen
Effektive Fernfeldverteilung eines Trapezlasers mit einer Wellenlänge von 730 nm für medizinische Anwendungen

Laser-Dynamik

Untersuchungen zum Zeitverhalten von Diodenlasern unter Impulsanregung

Erzeugung kurzer Laserimpulse mit Diodenlasern

  • Impulserzeugung im Zeitbereich 5 ps – 100 ns mittels
    • Gewinnschalten von Einsektionslasern
    • Güteschalten von Mehrsektionslasern
    • Modenkopplung von monolithischen 4-Sektionslasern
  • Untersuchung des Zeitverhalten von
    • Ausgangsleistung
    • Optischem Spektrum
    • Feldverteilung
  • Impulscharakterisierung mittels
    • schneller Fotodioden (40 ps – dc)
    • Streak-Kamera (2 ps – 50 ns)
    • Autokorrelator (200 fs – 50 ps)
Gewinnschalten einer DFB Laserdiode
Gewinnschalten einer DFB Laserdiode
Gemessenes RF-Signal für passive (schwarze und rote Kurven) und aktive (blaue Kurven) Modenkopplung von monolithischen 1 cm langen 4-Sektions-Lasern
Gemessenes RF-Signal für passive (schwarze und rote Kurven) und aktive (blaue Kurven) Modenkopplung von monolithischen 1 cm langen 4-Sektions-Lasern
4-GHz-Impulserzeugung: Mit einer schnellen Fotodiode und einem 50-GHz-Samplingsoszilloskop gemessenes Zeitverhalten eines 1 cm langen monolithischen 4-Sektions-Lasers
4-GHz-Impulserzeugung: Mit einer schnellen Fotodiode und einem 50-GHz-Samplingsoszilloskop gemessenes Zeitverhalten eines 1 cm langen monolithischen 4-Sektions-Lasers

Untersuchungen zur Zuverlässigkeit

Durch Burn-in-Tests und Lebensdaueruntersuchungen wird die Zuverlässigkeit der Diodenlaser ermittelt.

  • Lebensdaueruntersuchungen an Einzellasern und Minibarren für Zeiten bis t ≤ 10000 h
  • Burn-in-Tests
  • Zerstörungsfreie Fehleranalyse
    • Elektrolumineszenz
    • Facettenmikroskopie
    • Spektrenmodulation
Alterungsmessung

[Vortrag, pdf]

Ansprechpartner

PD Dr. Bernd Sumpf
 Tel. +49.30.6392-2659
 Fax +49.30.6392-2642
 E-Mail bernd.sumpf(at)fbh-berlin.de