Mikrowellenmesstechnik

Die am Ferdinand-Braun-Institut verfügbare Mikrowellenmesstechnik dient der Charakterisierung der Bauelemente und integrierten Schaltungen. Sie bildet darüber hinaus die Grundlage für die Modellgewinnung und Simulation. Es sind folgende Messverfahren und Methoden, vorrangig auf Wafer-Ebene, etabliert:

• S-Parameter-Messtechnik von 20 kHz bis 110 GHz
• Rauschcharakterisierung inklusive niederfrequenter Rauschmessungen
• Phasenrauschmessungen
• Load-Pull-Messtechnik für Leistungsbauelemente (2-10 GHz, 10+ W)
• Thermische Widerstandsmessung

Die Messtechnik kommt im Rahmen der Forschungsarbeiten und zur routinemäßigen, prozessbegleitenden Überwachung zum Einsatz. Die messtechnische Kompetenz des Ferdinand-Braun-Institutes steht nicht nur für eigene Belange zur Verfügung, sondern kann auch durch externe Interessenten in Anspruch genommen werden (Consulting, Messaufträge).